【培训 通知】创谱仪器X射线吸收精细结构谱仪培训通知

发布者:鲁兆新发布时间:2025-09-07浏览次数:55

一、仪器简介

X射线吸收精细结构(X-ray absorption fine structure, XAFS)具有对中心吸收原子局域电子结构、原子结构、化学环境敏感的特征,能够在原子尺度上给出中心吸收原子周围配位原子的种类、距离、配位数、无序度等的信息,这些特点使得XAFS技术在物理、化学、材料、生物、环境等研究领域中发挥了重要的材料表征作用。

二、2025XAFS/XES技术培训日程表

日期时间
培训主题核心内容地点

98

9:00-12:00

基础理论

与数据处理

XAFS基本原理与应用

XAFS数据处理及Athena软件基础操作

TableXAFS制样与测试理论

明德楼C818

98

14:00-17:00

XAFS功能实操

样品制备

样品测试组件使用

测试软件操作

明德楼C524

99

9:00-12:00

XES功能专项培训XES功能的切换与使用明德楼C524

99

14:00-17:00

用户自主测试工程师指导明德楼C524


三、样品要求

1)测试样品应符合国家法律法规要求;

2)粉末样品需提前通过ICP定量等方式了解样品元素组成及含量信息,送样前先与测试老师沟通样品体系信息确定合适的粉末用量,并提前将粉末研磨至400目以下;

3)碳纸/碳布负载、薄膜、溶液等样品类型,及原位实验需求在测试前先与老师沟通可行性;

4)泡沫镍/铜负载、常温常压下不稳定、易挥发变质等样品类型不支持测试;

四、设备型号与技术参数

1)型号:TableXAFS-3000

2X射线管:Mo靶,最大管电压: 50kV,最大管电流:40mA

3)能量分辨率(ΔE/E):2×10-4@8keV

4)单色化X射线光通量:样品处2×106 photons/s@8keV

5)重复性:同一单色器测量条件下,连续测量同一样品的能量漂移<50meV

6)弯晶单色器及可测元素:共16种弯晶单色器。可测试XAFS元素:TiVCrMnFeCoNiCuZnGaGeBrNbLaCePrNdSmGdDyErYbLuHfWOsIrAuBiBr。可测试XES元素:Ti V Fe Co Ni Cu Br Ge

7)原位池种类:高温高压气固相热催化、单室三电极电催化、气固相光催化、二次电池、扣式电池、软包电池; 

五、联系人及培训地点

1)联系人:鲁老师 电话:13115313817

2)仪器放置地点:化工与化学学院 C524