一、仪器简介
X射线吸收精细结构(X-ray absorption fine structure, XAFS)具有对中心吸收原子局域电子结构、原子结构、化学环境敏感的特征,能够在原子尺度上给出中心吸收原子周围配位原子的种类、距离、配位数、无序度等的信息,这些特点使得XAFS技术在物理、化学、材料、生物、环境等研究领域中发挥了重要的材料表征作用。
二、2025年XAFS/XES技术培训日程表
日期时间 | 培训主题 | 核心内容 | 地点 |
9月8日 9:00-12:00 | 基础理论 与数据处理 | XAFS基本原理与应用 XAFS数据处理及Athena软件基础操作 TableXAFS制样与测试理论 | 明德楼C818 |
9月8日 14:00-17:00 | XAFS功能实操 | 样品制备 样品测试组件使用 测试软件操作 | 明德楼C524 |
9月9日 9:00-12:00 | XES功能专项培训 | XES功能的切换与使用 | 明德楼C524 |
9月9日 14:00-17:00 | 用户自主测试 | 工程师指导 | 明德楼C524 |
三、样品要求
(1)测试样品应符合国家法律法规要求;
(2)粉末样品需提前通过ICP定量等方式了解样品元素组成及含量信息,送样前先与测试老师沟通样品体系信息确定合适的粉末用量,并提前将粉末研磨至400目以下;
(3)碳纸/碳布负载、薄膜、溶液等样品类型,及原位实验需求在测试前先与老师沟通可行性;
(4)泡沫镍/铜负载、常温常压下不稳定、易挥发变质等样品类型不支持测试;
四、设备型号与技术参数
(1)型号:TableXAFS-3000;
(2)X射线管:Mo靶,最大管电压: 50kV,最大管电流:40mA;
(3)能量分辨率(ΔE/E):2×10-4@8keV;
(4)单色化X射线光通量:样品处2>×106 photons/s@8keV;
(5)重复性:同一单色器测量条件下,连续测量同一样品的能量漂移<50meV;
(6)弯晶单色器及可测元素:共16种弯晶单色器。可测试XAFS元素:Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Ge、Br、Nb、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Gd、Dy、Er、Yb、Lu、Hf、W、Os、Ir、Au、Bi、Br。可测试XES元素:Ti V Fe Co Ni Cu Br Ge;
(7)原位池种类:高温高压气固相热催化、单室三电极电催化、气固相光催化、二次电池、扣式电池、软包电池;
五、联系人及培训地点
(1)联系人:鲁老师 电话:13115313817
(2)仪器放置地点:化工与化学学院 C524