X射线吸收精细结构（X-ray Absorption Fine Structure, XAFS）具有对中心吸收原子的局域电子结构、原子结构、化学环境敏感的特征，能够在原子尺度上给出中心吸收原子周围配位原子的种类、距离、配位数、无序度等的信息，这些特点使得XAFS技术在物理、化学、材料、生物、环境等研究领域中发挥了重要的材料表征作用。
长久以来XAFS技术需要依赖同步辐射光源，研究者们大量的测试与实验需求难以被满足，为此化学国家级实验教学示范中心（哈尔滨工业大学）引进了安徽创谱仪器科技有限公司生产的台式X射线吸收精细结构谱仪（型号：TableXAFS-3000），可在实验室中实现大部分样品的XAFS/XES测试。目前该仪器已完成安装调试与使用培训，正式进入试运行阶段。
仪器培训分为理论+实操两个部分，我校校友、创谱仪器应用专家章磊杰博士带来了XAFS 技术原理的讲解，结合实际科研案例，深入浅出地阐述了XAFS 技术的基本原理与谱图应用。并且通过现场演示与分步指导，带领现场师生们熟悉了Demeter软件包的使用，方便以后进行XAFS数据处理过程中的质量判断、数据导入、预处理、解谱与拟合等关键步骤。
实操培训在明德楼C524实验室内进行，创谱仪器应用工程师苏瑞指导了样品制备、参数设置和数据采集的全套测试流程，帮助大家熟悉了仪器的实际操作。并且针对师生们在科研工作中所重点关注的样品类型现场演示了相关测试方法与优化策略。
设备技术参数
（1）X射线管：Mo靶，最大管电压： 50 kV，最大管电流：40 mA；
（2）能量分辨率（ΔE/E）：2×10-4@8 keV；
（3）单色化X射线光通量：样品处2＞×106 photons/s@8keV；
（4）重复性：同一单色器测量条件下，连续测量同一样品的能量漂移＜50 meV；
（5）弯晶单色器及可测元素：共16种弯晶单色器。可测试XAFS元素：Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Ge、Br、Nb、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Gd、Dy、Er、Yb、Lu、Hf、W、Os、Ir、Au、Bi、Br。可测试XES元素：Ti V Fe Co Ni Cu Br Ge；
XAFS 样品要求:
（1）测试样品应符合国家法律法规要求；
（2）粉末样品需提前通过ICP定量等方式了解样品元素组成及含量信息，送样前先与测试老师沟通样品体系信息确定合适的粉末用量，并提前将粉末研磨至400目以下；
（3）碳纸/碳布负载、薄膜、溶液等样品类型，及原位实验需求在测试前先与老师沟通可行性；
（4）泡沫镍/铜负载、常温常压下不稳定、易挥发变质等样品类型不支持测试；
安装地点：一校区明德楼C524试验室
收费标准：即日起为试运行，校内300元/小时；校外500元/小时。
联系人：王老师 18804621079；
鲁老师 13115313817。